Neuheiten und Ereignisse | UNITES Systems a.s. » Innovative ATE Solutions, semiconductor testing, test and measurement
Neuheiten und Ereignisse
Semicon Russia 2008
UNITES Systems a.s. nahm an der Messe SEMICON Russia 2008 von 2. bis 4. Juni 2008 im World Trade Center in Moskau teil. Sie konnten uns am Stand von SVCS and Czech Silicon Valley Alliance besuchen.
Unsere Hi-Tech Prüfgeräte in Japan
Unser neu entwickeltes Produkt – Hochgeschwindigkeitsprüfgerät UNISPOT S40 ACCELL – wurde an eine weltweit bekannte Gesellschaft mit Sitz in Japan geliefert.
SEMICON China 2008
Zusammen mit Microhandling Sgp. Asia Pte. Ltd. nahmen wir an einer der größten Messen SEMICON China 2008 in Shanghai im New International Expo Centre teil.
Die Gesellschaft UNITES Systems a.s. präsentierte ihre Produkte in Indien
UNITES Systems a.s. nahm zusammen mit dem Unternehmen Microhandling Sgp. Asia Pte. Ltd. auf der Messe Componex Nepcon India 2008 im Pragati Maidan in New Delhi, vom 20. bis 22. September 2008 teil. Die Gesellschaft UNITES Systems a.s. stellte der asiatischen Öffentlichkeit ihre neue Prüfeinrichtung UNISPOT vor.
Funktionelles Prototyp UNISPOT DHP
Die Ingenieure in UNITES Systems a.s. bestätigten erfolgreich die Funktionalität des Prototyps UNISPOT S80/S140 DHP zur Messung der DC-Parameter (MOSFET, IGBT) bis 200A, 2.5KV.
Qualitätszertifizierung
Im April 2008 stellte die Gesellschaft UNITES Systems a.s. ihre Leistungen unter Beweis und wurde erfolgreich nach ISO 9001, ISO 14001 und OHSAS 18001 zertifiziert.
DER EUROPÄISCHE FONDS FÜR REGIONALE ENTWICKLUNG UND DAS MINISTERIUM FÜR INDUSTRIE UND HANDEL DER TSCHECHISCHEN REPUBLIK FÖRDERN INVESTITIONEN IN IHRE ZUKUNFT